¡ZEISS sigue desarrollando avances en tomografía!
La evolución constante de la industria hace que la inspección y medición de piezas de forma no destructiva se convierta en una necesidad fundamental. Estos análisis presentan dificultades cuando se trata de piezas de múltiples materiales o de espesores elevados.
Con la intención de acompañar a estas necesidades, ZEISS ha desarrollado herramientas avanzadas que garantizan una calidad de imagen excepcional y reducen artefactos en diversas aplicaciones.
Gracias al nuevo componente ZEISS scatterControl y a los avanzados algoritmos del software ZEISS INSPECT X-Ray, mejorarás drásticamente tus procesos de inspección y medición.
Regístrate ya en nuestro webinar del próximo 15 de enero para conocer estas novedades.
Hablaremos sobre cómo estas herramientas pueden transformar tus capacidades de inspección mediante la reducción de artefactos en tomografías computarizadas.
A lo largo de la sesión, se explicarán en detalle los últimos desarrollos de ZEISS para mejorar la calidad de imagen en tomografías de piezas complejas y se mostrará el efecto de estas funcionalidades en diferentes casos reales.
Además, se tratarán cuestiones sugeridas por el público asistente (no olvides registrar tus dudas o intereses particulares en la inscripción).
¡Aprovecha la oportunidad de estar a la última!
¡No te lo puedes perder!