ZEISS Sigma

Desde la limpieza de la fabricación y la predicción del desgaste del motor hasta la producción de acero, la gestión medioambiental y la fabricación aditiva, las soluciones de análisis de partículas con un microscopio electrónico de ZEISS automatizan sus flujos de trabajo y aumentan la reproducibilidad.

Análisis correlacionados que abarcan la microscopía óptica y electrónica en un flujo de trabajo integrado sin fisuras

• Informes LM/EM integrados automáticamente
• Encuentre las fuentes de la contaminación
• Tome decisiones informadas con mayor rapidez
• Mejorar continuamente la calidad de la producción
• Resultados más rápidos: análisis automatizados en lugar de continuos análisis individuales, además de inspección y comprobación de partículas más rápidas con algoritmos de aprendizaje automático integrados

ZEISS ZEN Intellesis permite la identificación de partículas mediante aprendizaje automático. Se puede acceder a los resultados a través del potente software ZEISS ZEN Connect. A continuación, ZEISS ZEN Intellesis proporciona más información sobre la distribución de partículas basándose en la segmentación de imágenes de aprendizaje automático y la clasificación de objetos.

Para una imagen SEM (1), se utiliza el análisis de imagen para segmentar todas las partículas (2) y medir las características elegidas. Las mediciones pueden mostrarse, por ejemplo, en forma de distribución de tamaños. La clasificación de objetos Intellesis se utiliza para clasificar aún más las partículas segmentadas y ordenarlas en sus subtipos (3). El recuento de partículas por tipo puede ejecutarse utilizando esta información. La clasificación de objetos se realiza para partículas nano y microplásticas estándar (poliestireno (PS, azul claro), polietileno (PE, verde), poliamida-nilón 6 (PA, azul oscuro) y cloruro de polivinilo (PVC, rojo) en un filtro de policarbonato fotografiado con ZEISS Sigma. Este estudio correlativo combina la alta resolución de un microscopio electrónico con las capacidades analíticas de un microscopio Raman.