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SEM convencional de nivel básico

ZEISS EVO

El microscopio electrónico multiuso que combina la calidad de los datos con un funcionamiento intuitivo

Los instrumentos de la familia ZEISS EVO combinan la microscopía electrónica de barrido de alto rendimiento con una experiencia intuitiva y fácil de usar que atrae tanto a expertos como a nuevos usuarios. Con su amplia gama de opciones disponibles, ZEISS EVO puede adaptarse con precisión a sus necesidades, tanto si se dedica a las ciencias de los materiales como al control de calidad industrial rutinario y al análisis de fallos.

  • Una solución polivalente y versátil
  • La mejor facilidad de uso
  • Excelente calidad de imagen
  • Automatización del flujo de trabajo e integridad de los datos
ZEISS EVO
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ZEISS EVO para la industria

Lleve su inspección al siguiente nivel.

ZEISS EVO es el sistema básico convencional, con un filamento basado en tungsteno o LaB6, para tareas de captura de imágenes repetibles diarias, por ejemplo, análisis de materiales de alta resolución, con flujos de trabajo ampliamente automatizados y de apoyo. El sistema ofrece flexibilidad para tamaños de estructura menos exigentes.

Campos de aplicación

  • Análisis y control de calidad
  • Análisis de fallos y fractografía
  • Materialografía
  • Inspección de limpieza
  • Análisis morfológico y químico de partículas para cumplir con las normas ISO 16232 y VDA 19 Parte 1 & 2
  • Análisis de inclusiones no metálicas 

ZEISS EVO: El microscopio electrónico multiuso que combina la calidad de los datos con un funcionamiento intuitivo

Lleve su inspección al siguiente nivel. ZEISS EVO le ofrece un menú de opciones de configuración para satisfacer sus requisitos exactos de precio y rendimiento. Adapte la resolución deseada a su aplicación y elija entre tres tamaños de cámara.

También puede optar por alto vacío, presión variable o presión ambiente para adaptarse a su tipo de muestra. A continuación, elija entre los detectores SE, BSE, EDX, VP y C2D que mejor se adapten a su aplicación. Con ZEISS EVO, disfrutará de las ventajas de la microscopía electrónica a un precio asequible.

Ejemplos de aplicación

  • Electrónica

    Los residuos y la contaminación son evidentes en la superficie de un circuito integrado. Imagen obtenida con el detector SE en alto vacío a 10 kV.

  • Celdas de combustible

    Las celdas de combustible suelen consistir en membranas de electrolito polimérico intercaladas entre electrodos de platino. Estos componentes críticos deben visualizarse a tensiones bajas para garantizar la obtención de información detallada de la superficie con alta resolución. Sección transversal con una fuente LaB6 (izquierda) y una fuente de tungsteno (derecha) a 3 kV. La fuente LaB6 proporciona más detalles superficiales a tensiones de aceleración bajas.

  • Acero dulce galvanizado

    Sección transversal de acero dulce galvanizado, obtenida con el detector SE en ZEISS EVO 15. Izquierda: resina de montaje; centro: capa de zinc; derecha: acero dulce.

  • Análisis de materiales mediante espectroscopia de rayos X (EDX)

    Imágenes BSE de superficies corroídas representativas con mapa EDS: cromo, plomo, cobre, níquel, carbonio y oxígeno.

  • Análisis de fallos en la superficie de un rodamiento de bolas

    La superficie del rodamiento de bolas obtenida con el detector de EEB revela grietas y desconchones en la estructura superficial.

  • Limpieza técnica

    Partículas de un filtro de partículas: análisis de limpieza técnica y control de calidad.

Microscopio electrónico de barrido ZEISS EVO: 10 imágenes en 90 segundos

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    Descubra cómo el microscopio electrónico de barrido ZEISS EVO lo ayuda en sus tareas rutinarias de inspección y análisis de fallos en laboratorios de calidad y materiales al permitir una captura de imágenes intuitiva incluso para usuarios principiantes. Características principales de EVO: - Imágenes de alta resolución - Funcionamiento eficaz - Análisis de composición química - Piezas de gran tamaño - Adquisición de imágenes de gran superficie - Muestras no conductoras - Análisis de partículas EDX - Mediciones automatizadas - Segmentación inteligente de imágenes - Correlación y uso compartido de imágenes

Otras aplicaciones para la industria:

  • Análisis de fases, partículas y soldaduras
  • Inspección visual de componentes electrónicos, circuitos integrados, dispositivos MEMS y celdas solares
  • Investigación de la superficie y la estructura cristalina del alambre de cobre
  • Investigación de la corrosión de los metales
  • Análisis de fases intermetálicas y transiciones de fase
  • Imágenes y análisis de microfisuras y resistencia a la fractura
  • Investigaciones sobre revestimientos y materiales compuestos
  • Examen de cordones de soldadura y zonas afectadas por el calor

Con ZEISS EVO, encontramos la aguja en el pajar.

Johannes Bachmann, experto en análisis de materiales del Grupo INNIO. Descargue el folleto y lea la historia completa.

Encontrar la aguja en el pajar.

Limpieza técnica: El Grupo INNIO analiza la composición química de las partículas de suciedad residual mediante una solución de ZEISS.

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Los resultados precisos y fiables son importantes, por supuesto, pero también lo es obtenerlos rápidamente,

dice Thomas Schaupp, jefe de laboratorio en el laboratorio de materiales acreditado SPC. Descubra cómo ZEISS EVO y la microscopía correlativa de ZEISS ayudan al laboratorio de pruebas a obtener resultados un 30 % más rápidos. Descargue el folleto y lea la historia completa.

Aplicaciones de microscopía para el aseguramiento de la calidad:

Ejemplos de clientes y folletos de la industria para la industria
  • Vista previa de imagen de ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF

    ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF

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  • Vista previa de imagen de ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

    ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

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